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PCB的環(huán)境試驗(yàn)測(cè)試類別

更新時(shí)間:2016-07-07 點(diǎn)擊量:2024

                          PCB的環(huán)境試驗(yàn)測(cè)試類別

1.溫度循環(huán)測(cè)試(Thermal cycle test)
2.高溫高濕偏壓測(cè)試(High temperature high humidity and bias test)
3.高溫儲(chǔ)存測(cè)試(High temperature storage test)
4.低溫儲(chǔ)存測(cè)試(Low temperature storage test)
5.熱沖擊測(cè)試(Thermal stock test)[氣體、液體]
6.高度加速壽命&壓力鍋試驗(yàn)(HAST、PCT) 7.離子遷移量測(cè)系統(tǒng)(Ion migration test) 
8.導(dǎo)通電阻量測(cè)系統(tǒng)(Conductor Resistance Evaluation System) 
9.振動(dòng)測(cè)試(Vibration test)